工業(yè)硬桿光學(xué)內(nèi)窺鏡提供了明顯優(yōu)于光導(dǎo)纖維內(nèi)窺鏡
工業(yè)硬桿光學(xué)內(nèi)窺鏡檢查提供了更好的光纖內(nèi)窺鏡成像效果,工業(yè)內(nèi)窺鏡.甚至比CMOS或CCD成像芯片工業(yè)電子內(nèi)窺鏡;高質(zhì)量取決于內(nèi)窺鏡成像質(zhì)量的光學(xué)成像原理,他們依靠內(nèi)部光學(xué)組件將內(nèi)窺鏡圖像沒有任何光電轉(zhuǎn)換直接轉(zhuǎn)移到目鏡。他們都完美應(yīng)對惡劣的工業(yè)金屬封裝結(jié)構(gòu)的測試環(huán)境,而且價格低于光纖內(nèi)窺鏡維修成本更低。
封裝在探測器內(nèi)的高質(zhì)量的光學(xué)透鏡組件的的前提下保證成像失真不生產(chǎn),大大提高成像對比度和亮度的影響。高質(zhì)量光纖探頭的內(nèi)部集成,照明光傳輸?shù)恼{(diào)查,以確保檢測區(qū)域照明亮度。